Präsentation auf dem EEEfCOM 2006 Workshop "Hochfrequenzelektronik, Komponenten, Module und EMV", Ulm, Deutschland, Juni 2006

Built-In Self-Test für RF ICs

Christian Münker und Robert Weigel

¹ Infineon Technologies AG, 81726 München
²Lehrstuhl für Technische Elektronik, Universität Erlangen-Nürnberg, 91058 Erlangen

Inhalt: Aktuelle CMOS Technologien mit ihren hohen Integrationsdichten ermöglichen hochintegrierte HF Systemlösungen, benötigen allerdings spezielle Architekturen wie Delta-Sigma modulierte PLLs um die HF Performanceschwächen der Technologien zu kompensieren. Diese komplexen Transmitter Architekturen stellen große Anforderungen an die Prüftechnik aufgrund der engen Wechselwirkung zwischen HF- und digitalen Komponenten. Es werden daher digitale Design-for-Test (DfT) und Built-In Self Test (BIST) Konzepte speziell für Frequenzsynthesizer und Transmitter präsentiert, um Testzeit und -kosten einzusparen. Neben Verfahren, die die Performance dieser Schaltungsblöcke im Zeitbereich testen, werden Konzepte vorgestellt, die eine direkte Überprüfung der Spezifikation im Frequenzbereich erlauben. Abschließend werden die Vor- und Nachteile des RF Loop-Back Tests diskutiert, bei dem Sende- und Empfangsteil in Kette geschaltet werden.

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